1、本仪表具有外型美观大方、手持/壁挂/坐立三用、USB接口、、高、可循环使用、掉电数据不丢失等特点。它可以全程自动跟踪记录实验室、生产车间、食品药品库房、机房等环境温湿度变化情况，在线显示时钟、温度、湿度值，实现温湿度超限液晶喇叭显示及声讯报警等功能。
2、摒弃传统的RS-232接口，采用稳定的USB通讯接口：
（1）软件操作仪器自动连接、自动保存数据，操作更方便。
（2）*的USB供电设计，即使内部电池没电的情况下也能正常数据。
（3）数据导出方便，可直接用笔记本移动连接导出，无需到远在办公室的台式机上去分析数据。
3、存储时间长：例15分钟记录一次数据，可存储记录长达5.7个月（标配型）。
高温对元器件的影响 A、半导体器件。电子元器件在工作时产生大量的热，如果没有有效的措施及时把热三走，就会使集成电路和晶体管等半导体器件形成结晶，这种结晶是直接影响计算机性能、工作特性和可靠性的重要因素。 根据实验得知，室温在规定范围内每增加10℃，其可靠性约下降25%。 器件周围的环境大约超过60℃时，就将引起计算机发生故障，当半导体期间的温度过高时，其穿透电流和电流倍数就会增大。 B、电容器。温度对电容器的影响主要是：使电解电容器电解质中的水份蒸发增大，降低其容量，缩短其使用寿命，改变电容器的介质损耗，影响其功率因数等参数变化。由实验得知，在超过规定温度工作时，温度每增加10℃，其使用时间下降50%。C、记录介质。实验表明：当磁带、磁盘、光盘所处温度持续高于37.8℃时，开始出现损坏;当温度持续高于65.6℃时则*损坏。对于磁介质来说，随着温度的升高，磁导率增大;当温度达到某一个值时，磁介质丢失磁性，磁导率急剧下降。磁性材料失去磁性的温度称为居里温度。
下面咱们来了解下温湿度测试仪的设备特点：
1、多路温度测试软件与仪器配合使用，计算机自动接收测试数据，实现温度记录，存贮和曲线显示，并打印表格及曲线。
2、可以设定参数选用1~64路任意路测量,配接不同的热电偶满足不同的温度测量范围；大屏幕液晶显示，各路温度参数和温度曲线显示，计算机串行通信直接连接电脑采集数据，软件为专门针对用户多路温度同时使用的特殊要求，既可以同时测一个样品或多个不同样品，或记录多个测试部位名称，也可以不同吋段测一个样品或多个不同样品，可以设定温度曲线颜色，有设计简繁体中文和英文版本，适合多种不同测试用途需求。
3、冷端环境温度：测量范围0～60℃。
4、本机还带有日期和时间设定具有、巡检功能；巡检时间可设定：1秒～255秒，测量时间间隔可以设定（不少于1秒）。
5、温度单位摄氏（C）华氏（F）可以自动转换。
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